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配件


定制高低温卡盘

探针台高低温加热卡盘是半导体测试中用于精确控制样品温度的关键部件,可在不同温度环境下对晶圆或芯片进行电学性能测试。

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三轴夹具

漏电精度低于100fA

可耐最大电流10A

高压1000V

1.8m三轴双屏蔽线缆,配三轴公接头(可根据客户测试仪器进行转接)

建议搭配CB-40-T等级或以上精度探针座

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同轴夹具

漏电精度可达10PA(配合屏蔽箱)

可耐最大电流1A

高压700V

1.5M同轴线缆,同轴公接头

建议搭配CB-40-T以上精度的探针座

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CB-200 探针座

0.5 / 0.7 /2 /10um移动精度可选

直流测试探针座

射频测试探针座

线性移动

四维调节

X-Y-Z移动行程最大可达20mm

磁性吸附与真空吸附可选

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CB-100 探针座

0.5 / 0.7 /2 /10um移动精度可选

直流测试探针座

射频测试探针座

线性移动

四维调节

X-Y-Z移动行程最大可达20mm

磁性吸附与真空吸附可选

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CB-40-T 探针座

0.5 / 0.7 /2 /10um移动精度可选

直流测试探针座

射频测试探针座

线性移动

四维调节

X-Y-Z移动行程最大可达20mm

磁性吸附与真空吸附可选

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CB-40 探针座

0.5 / 0.7 /2 /10um移动精度可选

直流测试探针座

射频测试探针座

线性移动

四维调节

X-Y-Z移动行程最大可达20mm

磁性吸附与真空吸附可选

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