产品中心
Product Center
探针台
多倍率光学显示系统
兼容12”、8”、6”、4”的晶圆测试及碎片测试
内部空气减震系统,有效隔离外部震动
综合控制系统,快速接入仪器测试
软件自动化测试,机械精度精确校准
X-Y轴移动速度:70mm/sec,重复定位精度:≤±1μm
Z轴移动速度:20mm/sec,Z轴重复定位精度:≤±μm
R轴精度0.0001°,重复定位精度:≤±1μm
温度范围:8K-300K
极限真空优于5x10-6(Torr)
支持6个探针臂,支持直流,漏电精度优于100fA
支持射频测试,频率范围DC~110GHz
支持光学测试,波长范围:190nm~2200nm
霍尔测量和磁输运测量
磁体类型:超导磁体
CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。
该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。
CM 系列探针台造型小巧,测量精度高,操作方便,符合人机工程学。
主要应用于I-V/C-V PIV测试,半导体行业以及光电行业的测试。
广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。