CH-8-D 双面探针台
CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。
该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。
CH 系列高端探针台
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CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。可广泛应用于集成电路、Wafer ， LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究领域。
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技术参数
型号 CH-8-D 双面探针台
台体
chuck尺寸
8英寸
水平旋转
卡盘可以360度旋转，细调精度不大于0.1度，带有锁定旋钮
XY移动行程
8英寸*8英寸
XY移动精度
10um/1um可选
样品固定
样品夹定，尺寸可调；真空吸附固定，卡盘多圈吸附环可独立控制
双面点针平台
气动升降平台升起为双平台，落下可做单平台使用
平台针座数量
单平台最多放置8个CB-200针座
卡盘结构
普通/高温/带背电极等结构卡可选择
温控系统
温度范围
室温~200℃ (300℃，400℃,500℃可选）
温控分辨率
0.1℃
温控稳定性
±1℃
温控传感器
100 Ω 铂电阻传感器
正面光学系统
CCD
200W/500W/1200W像素可选（正反面）
显微镜类型
单筒/体视/金相显微镜可选
放大倍率
16X-100X/20X-2000X
显微镜调节
水平方向绕立柱旋转X-Y移动2*2英寸，Z轴行程50.8mm
光源
外置LED环形光源/同轴光源
背面光学系统
显微镜类型
L型单筒显微镜
连续变倍比
6.3:1
放大倍率范围
0.75 – 5X
放大倍率
315X（计算公式：变焦*CCD*显示器）
显微镜调节
万向移动
光源
同轴光源