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EMMI 光子微漏电分析探针台

EMMI光子微漏电定位分析系统设备是集成电路失效分析中的重要分析工具,漏电定位对于失效分析者而言是必备工具。

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全自动探针台

深圳市森东宝科技有限公司推出的全自动晶圆探针台系列产品,可适应4~12寸晶圆测试,可提供高低温、高电压、低漏电等不同测试环境配置。设备简单易用、性能稳定,具备高精度、高效率、低振动和低噪声等特点。

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CP300 半自动探针台

多倍率光学显示系统

兼容12”、8”、6”、4”的晶圆测试及碎片测试

内部空气减震系统,有效隔离外部震动

综合控制系统,快速接入仪器测试

软件自动化测试,机械精度精确校准

X-Y轴移动速度:70mm/sec,重复定位精度:≤±1μm

Z轴移动速度:20mm/sec,Z轴重复定位精度:≤±μm

R轴精度0.0001°,重复定位精度:≤±1μm

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CRX-SM 低温超导真空探针台

温度范围:8K-300K

极限真空优于5x10-6(Torr)

支持6个探针臂,支持直流,漏电精度优于100fA

支持射频测试,频率范围DC~110GHz

支持光学测试,波长范围:190nm~2200nm

霍尔测量和磁输运测量

磁体类型:超导磁体

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CH 高端探针台

CINDBEST CH 型号探针台是一款功能齐全、兼容性强的探针台。

可以满足不同样品的测试,特别是大尺寸样品,如 8 英寸晶圆、12 寸晶圆等。

也可满足不同应用的测试,如直流测试、射频测试等。

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CH-8-D 双面探针台

CINDBEST CH-8-D 双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试,用于需要正面和背面同时扎针,以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。

该定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。

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CM-4 简易探针台

CM 系列探针台造型小巧,测量精度高,操作方便,符合人机工程学。

主要应用于I-V/C-V PIV测试,半导体行业以及光电行业的测试。

广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。

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CS 小型探针台

CS系列探针台造型小巧,测量精度高,操作方便,符合人机工程学。

主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。

广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。

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